Scanning tunneling mikroskop
Avsøkende tunnelelektronmikroskop[1] (engelsk: scanning tunneling microscope) (STM) er et spesielt linjeavsøkende ikke-optisk elektronmikroskop med tilstrekkelig oppløsning til å kunne skille enkeltatomer. Det er overflata som avbildes. Virkemåten beror på den kvantemekaniske tunneleffekten av elektroner fra en spiss, en spisselektrode, som sveiper over en overflate hvor konturene i flata følges med en avstand på 1 nanometer. Instrumentet ble oppfunnet av Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1982 ved IBM i Zürich. Oppfinnelsen ga dem Nobelprisen i fysikk i 1986.
Referanser rediger
- ^ «Tolketjenesten i Bergens termbase | Universitets- og høgskolerådet | Maritim terminologi | Maritim ordbok1 | Maritim ordbok2 | Marine evertebrater | Artsdatabanken | Økonomisk-administrativ terminologi | Norsk-tysk juridisk terminologi | English for business | Termbaser utviklet av Norsk termbank | Termbaser utviklet av Rådet for teknisk terminologi». oda.uib.no. Besøkt 15. juni 2020.
Eksterne lenker rediger
- (en) Scanning tunneling microscope – kategori av bilder, video eller lyd på Commons
- (en) Scanning tunneling microscope – galleri av bilder, video eller lyd på Commons
- «The Scanning Tunneling Microscope». Nobelprize.org.
